MS300測試系統(tǒng)外觀圖

MS系列系統(tǒng)是Inframet主要測試系統(tǒng)，可測量多種紅外整機(jī)系統(tǒng)：熱像儀，可見光-近紅外相機(jī)，短波紅外相機(jī)、激光測距機(jī)和多傳感器測試系統(tǒng)等，進(jìn)行全面測試和軸對準(zhǔn)的測試。

測試功能

1.         不同視場適用波段：可見光，近紅外，短波紅外，中波紅外和長波紅外；

2.         可測量多種紅外整機(jī)系統(tǒng)：熱像儀，可見光-近紅外相機(jī)，短波紅外相機(jī)、激光測距機(jī)和多傳感器測試系統(tǒng)等；

3.         可測量的重要參數(shù)如下

1.         不同視場的紅外熱像儀的軸對準(zhǔn)；

2.         不同鏡頭焦距的可見光-近紅外相機(jī)的軸對準(zhǔn)；

3.      可見光-近紅外相機(jī)與紅外熱像儀之間的軸對準(zhǔn)；

MS多波段整機(jī)測試系統(tǒng)測量不同系統(tǒng)的原理如下。

測試熱像儀：圖像投影儀投射圖像到中波/長波范圍熱像儀，由計算機(jī)系統(tǒng)生成的圖像分析被檢測熱像儀。高精度的離軸反射式CDT平行光管，TCB差分黑體，以及一組紅外靶標(biāo)用于投影。

測試可見光/NIR相機(jī)：可見光/NIR投影系統(tǒng)與圖像分析計算機(jī)系統(tǒng)相結(jié)合來測量電視相機(jī)。包括CDT反射式平行光管，可見光/NIR光源，和一組可見光靶標(biāo)；
一系列不同的輻射源可以用在投影系統(tǒng)中（光譜范圍擴(kuò)展到SWIR的光源或者M(jìn)TB黑體）以及一系列SWIR用于投影系統(tǒng)中的靶標(biāo)也可用于測量。

測量成像整機(jī)系統(tǒng)軸校準(zhǔn)：電控的測試系統(tǒng)生成由被測試熱像儀及相機(jī)生成的圖像并計算兩者之間的角度：
a) 熱像儀在不同視場下的光軸；
b) 相機(jī)在不同鏡頭放大率下的光軸；
c)熱像儀與相機(jī)之間的光軸。

激光系統(tǒng)軸對準(zhǔn)：計算機(jī)控制的測量系統(tǒng)分析激光系統(tǒng)在激光敏感卡上生成的圖像并計算光軸間的夾角：激光光軸（激光測距儀，激光指示器，激光照射器等）相對于成像系統(tǒng)光軸。注意：MS系統(tǒng)可以進(jìn)行激光測距儀發(fā)射光軸的校準(zhǔn)。這里假定激光測距儀發(fā)射光軸與接收已經(jīng)調(diào)整好。這里可選測量激光測距儀的光軸對MS系統(tǒng)軸的能力。

測量SWIR相機(jī)：SIWR投影系統(tǒng)與圖像分析計算機(jī)系統(tǒng)相結(jié)合來測量SIWR相機(jī)。它包括CDT反射式平行光管，SWIR光源，和一組SWIR靶標(biāo)；

測量不同圖像格式的熱像儀：當(dāng)采用模擬視頻采集卡并且測量分辨率小于等于756×576的25Hz的視頻圖像時；也可以選擇數(shù)字圖像采集卡（Camera Link,或GigE，或LVDS，USB2.0）作為測量高分辨率高幀頻的數(shù)字輸出傳感器。

產(chǎn)品參數(shù)

表1  MS測試系統(tǒng)配置參數(shù)